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安柏直流電阻測(cè)試儀
安柏儀器AT510是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的電阻測(cè)試儀?？梢詼y(cè)試1µΩ～3MΩ的電阻，Z大顯示30,000數(shù)。Z高測(cè)試速度60次/秒，測(cè)試速度在15次/秒下，依然可以保證0.05%的準(zhǔn)確度，并且讀數(shù)跳動(dòng)可控制在3字以下。
查看詳細(xì)介紹 更新時(shí)間：2023-12-21 -
多路電阻測(cè)試儀
高亮度，超清晰四色VFD顯示。 ● 校正功能：短路清零功能 。 ● 比較器（分選）功能：內(nèi)置比較器，GD/NG分選結(jié)果顯示和輸出。 ● 四端測(cè)試 ● 內(nèi)置RS232接口和Handler接口。 ● 兼容SCPI指令集。
查看詳細(xì)介紹 更新時(shí)間：2023-12-21 -
多路電阻測(cè)試儀
●高亮度，超清晰四色VFD顯示。 ●校正功能：短路清零功能 。 ●比較器（分選）功能：內(nèi)置比較器，LOW/GD/NG分選結(jié)果顯示和輸出。 ●四端測(cè)試 ●內(nèi)置RS232接口和Handler接口。 ●兼容SCPI指令集。
查看詳細(xì)介紹 更新時(shí)間：2023-12-21 -
多路電阻測(cè)試儀
●多路測(cè)試：10路 ●基本準(zhǔn)確度：0.1% ●溫度準(zhǔn)確度：0.2℃ ●定制量程，從1µΩ ～ 3MΩ。 ●VFD顯示：30,000讀數(shù)。 ●高速測(cè)試：10ms/次，50ms/次，100ms/次
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安柏多路電阻測(cè)試儀
安柏AT510X6 是一種高精度寬量程、高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀，測(cè)試范圍從1µΩ～3MΩ，Z大顯示30,000數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù)，使得多路測(cè)試周期高達(dá)10ms/次，AT510X6 6路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)600個(gè)器件的測(cè)試。 。
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直流低電阻測(cè)量?jī)x
高亮度真空熒光屏（VFD）顯示 單片機(jī)微電腦技術(shù)控制 高精度、高穩(wěn)定度 自動(dòng)清零，設(shè)置數(shù)據(jù)鎖存 可選配RS232C接口和PLC接口
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YD2511B型直流低電阻測(cè)試儀 電阻測(cè)量?jī)x 揚(yáng)子
微處理技術(shù)控制、操作簡(jiǎn)便 測(cè)試速度快、穩(wěn)定性好 上下限立即數(shù)預(yù)置 分選指示，自動(dòng)清零
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揚(yáng)子YD2511型直流低電阻測(cè)試儀 電阻計(jì)
微處理技術(shù)控制、操作簡(jiǎn)便 測(cè)試速度快、穩(wěn)定性好 上下限立即數(shù)預(yù)置 分選指示，自動(dòng)清零
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